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測厚儀
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x射線鍍層檢測儀器 分析檢出限可達2ppm,較薄可測試0.005μm。 分析含量一般為ppm到99.9% 。 鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同) 任意多個可選擇的分析和識別模型。 相互獨立的基體效應校正模型。
電鍍檢測機器設備 對可能影響整機度及穩定性的核心器件,全部采用進口原廠器件。 模塊化設計與組件選擇,確保了整機性能的穩定性與未來服務的操作簡便性。 特別設計的原級、二次濾光系統,既保證了對有害元素的激發效率,同時全面降低了作為干擾因素的背景強度,充分提峰背比,大幅度降低檢出下限。
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