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GB/T15923-1995 鎳礦石化學分析方法檢測儀

簡要描述:GB/T15923-1995 鎳礦石化學分析方法檢測儀
礦石化學元素成分檢測設備主要有:
X射線能量色散譜儀(EDS),X射線波長色散譜儀(WDS), X射線光電子能譜儀(XPS),高頻電感耦合等離子發射光譜儀(ICP-AES),原子吸收光譜儀(AAS),X射線熒光光譜儀(XRF),碳硫儀,氮氧儀,分光光度計等高精密儀器設備。
實際測試礦石過程中使用最多的是XRF,ICP和AAS這三款。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-05-10
  • 訪  問  量:870

詳細介紹

GB/T15923-1995 鎳礦石化學分析方法檢測儀

礦石一般可以分為:

鐵礦(赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

其它礦類

礦石化學元素成分檢測設備主要有

X射線能量色散譜儀(EDS),X射線波長色散譜儀(WDS), X射線光電子能譜儀(XPS),高頻電感耦合等離子發射光譜儀(ICP-AES),原子吸收光譜儀(AAS),X射線熒光光譜儀(XRF),碳硫儀,氮氧儀,分光光度計等高精密儀器設備。

 實際測試礦石過程中使用最多的是X射線熒光光譜儀(XRF),高頻電感耦合等離子發射光譜儀(ICP-AES)原子吸收光譜儀(AAS)這三款。這三款設備的區別在于:

 X射線熒光光譜儀(XRF)只能對礦石成分進行定性分析,定量分析的話,偏差很大,優點在于攜帶方便,測試方便,對于測試數據要求不高的情況下可以考慮購買使用;高頻電感耦合等離子發射光譜儀(ICP-AES)原子吸收光譜儀(AAS這兩款測試設備都是實驗室使用的高精密設備,測試結果穩定,測試數據精度高,缺點在于它們只能放在實驗室中使用,而ICP與AAS的區別是ICP一次進樣可以測試多個元素含量,AAS一次進樣只能測試一個元素含量。

下面介紹通用于礦石元素成分檢測的這種設備:

X射線熒光光譜儀(XRF)

便捷的操作

1、重量輕,體積小,配有專用儀器套,更易抓握,野外使用更方便。

2、270 °可旋轉5寸高清屏,支持多點操控,任何光線下都能清晰顯示。

3、密封式一體設計,具備防水防塵功能,可在惡劣環境下連續使用。

4、無需制備樣品,可直接對待測物表面進行測定。儀器既可手持進行快速測試,也能使用測試座對樣品進行較長時間的精細測試。

好的性能

1、無損快速檢測,對準即測。性能堪比臺式機,檢測效果又快又準。

2、同時檢測 鈦、釩、鉻、錳、鐵、鈷、鎳、銅、鋅、鎵、鍺、鋯、鈮、鉬、釕、銠、 鈀、銀、銦、錫、銻、鉿、 鉭、 鎢 、錸、鉑、金、鉛、 鉍、鎂、鋁、硅、磷、硫 元素,并且可以根據客戶需求進行定制再增加元素(儀器配置不同測試內容不同)

3、超近光路設計,儀器無需充氦氣,可檢測從Mg開始的輕元素,可以滿足特定用戶的需求。

高配置

微型光管、Fast-SDD探測器、微型數字信號多道處理器及智能分析模塊四大核心技術的引入,使其具有臺式相近的測試精度。

采用高主頻及大內存,超大存儲空間,可海量存儲數據。全新自主研發的數字多道技術,保證每秒有效采譜計數大可達500k cps。

準直濾波系統,其組合達到極限12組,滿足客戶的不同條件下的檢測需求。

高清晰攝像頭,隨時觀察樣品測試位置,使測量更加精準。

*更安全的防護

1、智能三色預警系統:LED三色長燈帶設計,360度顯示。通電開機時綠燈亮,測試紅燈閃爍,設備故障黃色燈閃爍,儀器狀態,一目了然。

2、三重安全防護功能:

a: 自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏。

b: 采用加厚防護測試壁,有效防止散射。

c: 配送防護安全罩,防周邊輕基體散射。

3、安全聯動鎖裝置,當軟件無法控制關閉,輕輕一按,時間保護您的安全,守護關卡。

地礦行業應用優勢

檢測元素:標準配置可檢測30多種元素,同時可按客戶需求增加檢測元素

專業性:礦石專用版分析軟件,采用智能一鍵測試

*個性化定制工作模式

多種礦樣模式選擇和無限數目模式的自由添加,根據客戶需求定制工作模式。

界定礦山邊界

內置GPS功能,在野外可隨時搜索衛星信號,在測試時可隨時記錄測量的經緯度、海拔高度,確定取樣點的地理位置信息,并隨測試報告同時保存。

*獲得的坐標分析數據可繪制成礦山礦石分布圖,從而快速普查大范圍礦區,準確掌握礦脈走向,界定礦山邊界,做到優先開采富礦區,大大提高生產效率。

*內置藍牙功能,配置藍牙打印機后,可實現礦區原位測試的“邊測邊打"功能。

*充分挖掘礦山價值

高清攝像頭,可對被檢測的礦脈或礦點部位進行更直觀的觀察,并對開采過程進行管理和控制,隨時檢測礦石品位。

*對選礦過程中原礦、精礦和尾礦等進行快速分析,為礦石品位的測定、礦物貿易、加工以及再利用提供價值判定依據。

*環境監控

對開采礦山周圍土壤中的重金屬進行監測和檢測,評估礦山環境的修復情況,大限度的監測好礦山周邊的環境。

AAS型原子吸收光譜儀

AAS型原子吸收光譜儀廣泛應用于科研、地質、質檢、疾控、環保、冶金、農林、化工等行業,創新的軟、硬件設計確保樣品分析的準確性、安全性、易用性,儀器維護簡單便捷。

儀器測試元素:可測元素30余種

可測定:鋰(Li),鈉(Na),鉀(K),銣(Rb,銫(Cs),鎂(Mg),鈣(Ca),鍶(Sr),鋇(Ba),釩(V),鉻(Cr),錳(Mn),鐵(Fe),鈷(Co),鎳(Ni),銠(Rh),鈀(Pb), 鉑(Pt),金(Au),銅(Cu),銀(Ag),鋅(Zn),鍺(Ge),鎘(Cd),銦(In),鎵(Ga),鉛(Pb),砷(As),鉍(Bi),硒(Se),銻(Sb),釕(Ru)等(因測試樣品不同測試元素多少有所不同)。

2.主要特點

高精度全自動化光學系統

色散率為1800條/毫米刻線大面積光柵,新型自準直單色器,所有鏡片均是石英鍍膜,寬廣的檢測范圍和光學穩定性確保了分析的精度。手動3燈座配置3個獨立燈電源,可分別預熱;

高分子霧化室

高分子材料抗腐蝕霧化室,耐酸堿,包括氫氟酸,無論是有機或是無機溶液都能得到較好的靈敏度和穩定性;

鈦燃燒器

鈦燃燒器,可選配50mm和100mm燃燒器,空冷預混合型,耐腐蝕,耐高鹽,大幅度提高火焰的效率和火焰分析的準確度;

全自動化分析

能自動完成安全點火,熄滅和切換,結構可靠,故障率低,從而確保火焰法的靈敏度和重現性。

光源系統三燈位平臺切換,可直接使用高性能空心陰極燈,提高火焰分析的靈敏度,自動調節供電參數和光束位置,全自動波長掃描和尋找波峰;

高技術指標

AAS型原子吸收光譜儀元素測試靈敏度達到行業先進水平,靈敏度≤0.015μg/mL/1%;基線漂移小于0.003Abs/30m,穩定性優于0.005Abs/4h;

背景校正系統

采用超脈沖背景校正技術,以每秒200次(50Hz)或240次(60Hz)的讀數頻率,對背景峰進行校正。

背景測量和樣品測量的時間差1ms,保證校正精度。

高精度氘燈校正范圍:175-425nm,可以校正到2.5Abs

智能化分析

智能性非常強,人性化設計,自動設置調節火焰高度,自動點火,水平位置自動優化,系統自動設置氣體流量。如遇停電、誤操作、乙炔泄漏等,系統會自動啟動安全保護功能;

3.軟件功能

強大的功能

高智能軟件,功能強大,友好的中文操作界面。全自動儀器及附加控制,可自動優化,自動稀釋;鼠標操作,自動設定菜單數據和校正方法;

測量數據可以實現動態顯示。標準曲線可以實現自動擬和;

樣品測量準確:采用向導的方式對樣品進行設置,方便快捷;

靈敏度校正功能:使測量的結果更為準確;

數據共享

方便快捷的數據共享

數據處理:可對數據進行編輯保存;

打印輸出:提供單元素與多元素分析的報告;對測量結果及儀器的條件進行打印;

數據導出:數據導出功能實現了與其他系統的數據共享。

數據處理

測量方式 : 火焰法、氫化物-原子吸收法  

濃度計算方式 : 標準曲線法(1~3次曲線),自動擬合,標準加入法  

重復測量次數 : 1-99次、計算平均值、給出標準偏差和相對標準偏差  

結果打印 : 參數打印,數據結果打印,圖形打印,可導出WORD、EXCEL文檔

ICP電感耦合等離子體發射光譜儀

產品簡介

ICP電感耦合等離子體發射光譜儀可用于測定多種元素,主要有Fe.Na.Mg.Ni.V.Ca.Pb.Mo.Mn.Cr.Ca.Ba.As70多種元素(測試樣品不同多少有所不同)

工作環境

內容                適應范圍

貯存運輸溫度       15℃-25℃

貯存運輸相對濕度   ≤70%

大氣壓                86-106 kPa

電源適應能力        220±10v  50-60MHz

工作濕度           ≤70%

工作溫度           15℃-30℃

技術指標

固態電源技術指標

電路類型:電感反饋式自激振蕩電路,同軸電纜輸出,匹配調諧,功率反饋閉環自動控制

工作頻率:27.12MHz±0.05%

頻率穩定性:<0.1%

輸出功率:800W—1500W

輸出功率穩定性:<0.3%

電磁場泄漏輻射強度:距機箱30cm處電場強度E:<2V/m

進樣系統技術指標

輸出工作線圈內徑25mm

矩管,三同心型,外徑20mm的石英矩管

同軸型噴霧器外徑6mm

雙筒形霧室外徑34mm

氬氣流量計規格和載氣壓力表規格

1.等離子氣流量計(100-1000)L/h (1.6-16L/min)

2.輔助氣流量計(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)

3.載氣流量計(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)

4.氧氣流量計(0-100)ml/min (30-50ml/min)

5.載氣穩壓閥(0-0.4MPa)

6.冷卻循環水:水溫20-25℃ 流量>5L/min 水壓>0.1MPa

單色器技術指標

光路:Czerny-Turner

焦距:1000mm

光柵規格:離子刻蝕全息光柵,刻線密度4320線/mm

線色散率倒數:0.26nm/mm

分辨率:≤ 0.005nm(4320刻線)

掃描波長范圍: 4320線/mm掃描波長范圍:180—435 nm

步進電機驅動最小步距:0.0006 nm

出射狹縫:10μm入射狹縫:8μm

光電轉換器技術指標

光電倍增管規格:R293

光電倍增管負高壓: 0-1000V穩定性<0.05%

制冷系統技術基本

制冷型旋流霧室:采用進口硅膠集合技術能夠使溫度快速降到零下20度

整機技術指標

掃描波長范圍:185nm~435nm(4320/mm光柵)

重復性:(即短期穩定度)相對標準偏差RSD≤1.5%

穩定性:相對標準偏差RSD≤2%

產品配置清單

   

一、產品配置(以合同為準)

序號

配件名稱

備注

標準配置




1

主機




1.1

ICP700T主機

1

光柵刻線 3600L/mm 2400L/mm 4320L/mm三種光柵配置,三選一

2

軟件




2.1

博維ICP單道掃描光譜儀分析軟件[ICP分析軟件]V1.0

1

光盤刻錄

3

外設/附件




3.1

電腦主機

1

品牌

3.2

佳能打印機

1

品牌

3.3

網線

1


3.4

多功能樣品盒

1


3.5

塑料桶

1


3.6

氣路系統




3.6.1

氬氣減壓閥

2

In:025MPa,Out:00.4MPa入口端G5/8出口端M16×1.5RHM152IN-40

3.6.2

軟管轉接頭

2


3.6.3

軟管轉接頭

4


3.6.4

PU軟管

15

10×6.5×1.75mm

3.6.5

PU軟管

10

6×4×1mm

3.6.6

PVC透明軟管

1

8mm×6mm透明軟管

3.7

水路系統




3.7.1

水管

15


3.7.2

冷卻水箱

1

同洲維普

3.8

電源系統




3.8.1

穩壓電源

1


3.8.2

插頭電源線

2

RVVZ-3P,JL301F,227IEC53(RVV),300/500V,3×0.75mm2,10A250V

3.8.3

接地銅編織線

15


3.8.4

黃銅管

1

外徑48,壁厚3,長度500一端尖頭

3.9

隨機資料




3.9.1

保修卡

1

中文

3.9.2

產品質量合格證

1

中文

3.9.3

操作規程

1

中文

3.9.7

附件箱

1

附件包裝紙箱

4

備件/耗材




4.1

炬管

2

SR-T-1.2-P,曙光明,耗材

4.2

霧化器

1

進口

4.3

毛細進樣管

1

TYGON-R3603-AAC00001D=2.38,d=0.8mm

4.4

蠕動泵泵頭軟管

3

Ф1.52×0.86 40cm tygon-R-36072S)兩卡

4.5

過濾罐濾芯

4

五寸,pp,水質,外徑:60mm,內徑:28mm,長度:125mm,過濾精度:5um

4.6

霧室

2

雙筒型霧室

4.7

矩管調試工具

1


       

產品技術指標

本產品技術指標參照國家標準《 JJG 768-2005 發射光譜儀檢定規程》執行。

一、技術指標

詳細指標參數如下。

光柵刻線

光柵:2400刻線

光柵:3600刻線

光柵:4320刻線

波長

范圍

190nm-800nm

190nm-500nm

190nm-420nm

示值誤差

±0.03nm

±0.03nm

±0.03nm

重復性

0.005nm

0.005nm

0.005nm

最小光譜帶寬

Mn 257.610nm

半高寬0.030nm

Mn 257.610nm

半高寬0.015nm

Mn 257.610nm

半高寬0.007nm

檢出限/(ug/L)

Zn(213.856nm)3.0

Ni(231.604nm)10.0

Mn(257.610nm2.0

Cr(267.716nm)7.0

Cu(324.754nm)7.0

Ba(455.403nm1.0

Zn(213.856nm)3.0

Ni(231.604nm)10.0

Mn(257.610nm2.0

Cr(267.716nm)7.0

Cu(324.754nm)7.0

Ba(455.403nm1.0

Zn(213.856nm)3.0

Ni(231.604nm)10.0

Mn(257.610nm2.0

Cr(267.716nm)7.0

Cu(324.754nm)7.0

Ba(455.403nm1.0

重復性

3號溶液 RSD1.5%

3號溶液 RSD1.5%

3號溶液 RSD1.5%))

穩定性

3號溶液 RSD2%

3號溶液 RSD2%

3號溶液 RSD2%

說明:下表為檢定用溶液標準

A.1 檢定波長用標準溶液

元素

Se

Zn

Mn

Cu

Ba

Na

Li

K

波長/nm

196.026

213.856

257.610

324.754

455.403

588.995

670.784

766.491

濃度/mg/L

10.0

10.0

5.00

5.00

5.00

20.0

10.0

20.0

注:基體為0.5mol/L硝酸

1.光柵刻線為2400L/mm時波長檢定以上元素

2.光柵刻線為3600L/mm時波長檢定元素不含LiNaK

     

                           A.2 工作曲線系列標準溶液               單位:mg/L

元素

Zn

Ni

Mn

Cr

Cu

Ba

1

0

0

0

0

0

0

2

1.00

1.00

0.50

1.00

0.50

0.50

3

2.00

2.00

1.00

2.00

1.00

1.00

4

5.00

5.00

2.50

5.00

2.50

2.50

注:基體為0.5mol/L硝酸

.典型元素檢出限(μg/L(測試對象不同有所不同)

元素

La

Ce

Pr

Nd

Sm

Eu

Gd

Tb

波長(nm)

408.672

413.765

414.311

401.225

360.946

381.967

342.247

350.917

檢出限

<3.0

<5.0

<5.0

<5.0

< 10.0

< 1.0

<10.0

< 3.0

元素

Dy

Ho

Er

Tm

Yb

Lu

Y

Sc

波長(nm)

353.170

345.600

337.271

313.126

369.419

261.541

371.030

335.373

檢出限

<3.0

<3.0

<3.0

<3.0

<1.0

<3.0

<1.0

<1.0

元素

Ta

Nb

Mn

Mg

B

Zn

Co

Si

波長(nm

226.230

313.340

257.610

279.553

249.773

13.856

228.616

251.611

檢出限

<5.0

<5.0

<3.0

<1.0

<10.0

<3.0

<3.0

<10.0

元素

Ni

Cd

Fe

Ca

Mo

V

Be

Ti

波長(nm)

232.003

226.502

239.562

393.366

281.615

310.230

313.041

334.941

檢出限

<5.0

<3.0

<3.0

<1.0

<5.0

<5.0

<1.0

<3.0

元素

Cu

Cr

Al

Zr

Ag

Sr

Au

Pt

波長(nm)

324.754

267.716

396.152

343.823

328.068

407.771

242.795

265.945

檢出限

<3.0

<5.0

<5.0

<5.0

<3.0

<1.0

<5.0

<5.0

元素

Pd

Ir

Rh

Ru

Ba

波長(nm)

340.458

224.268

343.489

240.272

455.403

檢出限

<5.0

<10.0

<10.0

<5.0

<1.0

元素

As

Sb

Bi

Hg

Pb

Ga

Se

波長(nm

228.812

206.833

223.061

253.652

220.353

294.364

203.985

檢出限

≤15

≤15

≤10

≤15

≤15

≤10

≤10

元素

Sn

Te

Ta

Th

Tl

Re

Ge

波長(nm)

242.949

214.281

226.230

283.730

276.787

227.525

209.426

檢出限

≤20

≤10

≤5.0

≤10

≤30

≤5

≤15

元素

Os

W

Se

Li

Na

K

波長(nm)

225.585

207.911

203.985

670.784

588.995

766.490

檢出限

≤1

≤10

≤30

≤3

≤20

≤60

.工作環境要求

2.1、不要將儀器直接安裝在窗戶邊或者門邊,避免對流、灰塵、腐蝕性氣體及振動。

2.2、請遠離強電磁場干擾。

2.3、環境溫度:2025℃。

2.4、工作濕度:≤ 70%

2.5、儀器應放置在平穩的工作臺上,無振動,儀器上方應有排風系統,儀器附近應無強光直射及強烈電磁場干擾,環境中應無強烈腐蝕性氣體。

2.6、詳細工作條件以及安裝方法請參照《ICP實驗室安裝條件》。

產品驗收方法

3.1 按產品配置清單清點產品;

3.2 驗收測試方式采用標樣測試,在符合產品“工作環境要求"的工作條件情況下,測試結果的各項指標符合產品的“技術參數"則標志驗收通過,甲方應簽署驗收合格確認書;

3.3 甲方需在收到儀器15日內,提供符合本合同第三條“工作環境要求"的儀器安裝地點;協同乙方完成裝機和培訓并參與合同產品的驗收。如甲方在收到儀器30日內,無法協同乙方完成裝機及培訓,則視為合同標的已驗收合格,甲方不得提出異議


GB/T15923-1995 鎳礦石化學分析方法檢測儀


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公司地址:廣東省深圳市福田區梅林多麗工業區

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